C-flat™ 带来更好的数据集。 C-flat™ 采用正在申请专利的技术制造，提供超平坦的表面，可实现更好的颗粒分散和更均匀的冰层厚度。使用深紫外投影光刻完成图案化，确保最准确和一致的孔形状和尺寸小至亚微米特征。制造 C-flat™ 的精确方法消除了多余的碳和孔周围的边缘等伪影。
C-flat™ 多孔碳网格为在低温 TEM 中获得高分辨率数据提供了理想的样品支撑，使其成为单粒子分析、低温电子断层扫描和自动 TEM 分析的理想选择。
许多研究人员报告说，C-flat™ 的超平坦表面导致冰层厚度均匀，孔区域内的颗粒分布均匀。与其他多孔支撑膜相比，这种最佳的颗粒分布导致收集的数据更出色。 2µm 孔尺寸是标准尺寸，但也可提供定制孔尺寸，因此 C-flat™ 可以适应用于定量 TEM 分析的常用放大倍率。

C-flat™ 提供一系列与自动数据收集软件（如 Leginon）兼容的常规分析站点。这种兼容性，再加上许多研究人员报告的更均匀的冰厚度和颗粒分布，导致每个网格的目标站点质量更高。